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K-Space Associates 实现了创纪录的薄膜计量销售

      材料来源:化合物半导体

一个研究和生产设施的计量工具供应商k-Space Associates,宣布他们 2021 年的薄膜计量销售额比2020年增长了 30%,创下了销售记录。这一增长部分归因于 kSA MOS UltraScan 的强劲销售。

 

kSA MOS UltraScan 非原位计量工具是一种高分辨率扫描系统,可测量晶圆曲率、弯曲度和倾斜度。kSA MOS UltraScan是基于经过验证且获得专利的kSA MOS技术,使用激光阵列来绘制二维曲率、晶片弯曲和反射表面(如半导体晶片、光学镜、玻璃和透镜)的应力。kSA ThermalScan模型中也提供了该技术,该模型包含一个用于晶圆热应力分析的集成加热室。

 

k-Space Associates首席执行官Darryl Barlett表示, “k-Space在设计和生产卓越的计量工具方面享有盛誉,这些工具在研究和制造环境中都有不同的应用。由于能够定制任何k-Space工具以满足每个客户的特定要求,我们的客户知道他们的仪器将帮助他们完成研究和生产目标。这就是为什么我们的许多客户在有额外的专业计量需求时会选择我们。"

 

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