Jingjia Semiconductor Acquires Shandong University AlN Technology, Becoming the World's Only Substrate Manufacturer with Independent IP for Both GaN and AlN
交付突破500万颗!全球首款量产终端硅基氮化镓射频芯片实现规模化商用
Deliveries Exceed 5 Million! The World's First Mass-Produced Silicon-Based GaN RF Chips Achieve Large-Scale Commercialization
技术 Technology
PCSEL与VCSEL的优缺点
The pros and cons of PCSELs and VCSELs
InP HBT的新基础
A new foundation for the InP HBT
非对称结构催生卓越SiC超结器件
Asymmetry spawns superior SiC superjunctions
加速硅基氮化镓射频功率放大
Accelerating GaN-on-silicon RF power amplification
碳化硅外延工艺中颗粒产生及改善研究
Research on Particulate Contamination and Its Suppression During SiC Epitaxy
科技前沿 Research Review
释放AlN缓冲层HEMT的潜力
Unlocking the potential of AlN-buffer HEMTs
硅基氮化镓HEMT能否用于未来的手机?
GaN-on-silicon HEMTs for next-generation handsets?
GaN:
提升光功率转换器效率
GaN: Boosting the efficiency of optical power converters
自世纪之交以来,SiC的商业生产受益于巨大的技术进步。在这段时间里,衬底直径从仅仅50 mm扩展到200 mm,而且首批300 mm也刚刚展示出来了。然而,尺寸并非一切。质量至关重要——而这是150 mm和200 mm SiC衬底的一个问题,缺陷密度,特别是位错的普遍存在,阻碍了基于SiC的功率器件的性能和可靠性。解决这一问题的是一种被称为近空间(CS)PVT的改进技术。采用这种有吸引力的替代方案,生长室的激进设计确保了低得多的径向热梯度——比标准PVT低一个数量级。除了这一优势外,轴向温度梯度在CS-PVT中可以比标准PVT大得多。