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技术 | Technology – GaN 传感器
底去除。我们是在晶向为(111)的 200mm 硅晶
圆上沉积 GaN 表明来制作器件,这是一个基于功
率 HEMT 的成熟工艺,但我们取消了常规栅结构
的加工,而是在栅极区周围制作了一个具有集成
加热功能的钨电阻加热器,如图 3 所示。最后一
个工艺步骤是用等离子刻蚀来去除位于活性区域
下方的硅衬底,产生一个独立的 AlGaN/GaN 悬
空结构,这被称之为“微热板”。
运用这一结构设计,加热所需的功率可降低
100 倍。在衬底上的热量损失将会大大减少,因
为仅仅只需要对薄膜上的活性区域进行加热。由
于该薄膜层能够进行极为快速的加热或冷却,交
替加热形式的工作周期可以减少功耗,使得它的
功耗仅有几个毫瓦(图 4)。
我们器件设计的另一项优势是,与目前先
进的金属氧化物传感器相比,我们传感器的灵敏
图3. IMEC的NO 2 传感器的制备过程首先是在8英寸(111)硅片上生长 AlGaN/GaN异质结,然后
度受湿度的影响很小。我们在相对湿度为 20%、 加工钨的环形加热器,再制作源/漏接触及其引脚。在源、漏之间的凹槽传感区域大大增强传感
50% 和 80% 的情况下来分别测量 NO 2 的浓度, 器对气体的灵敏度,最后再刻蚀去除活性区下方的硅衬底。
结果是其浓度基线并没有明显的变化(图 5)。与 我们传感器的优势是来源于它的设计。对于
EVATEC立足科技前沿,
此同时,在上述不同的湿度条件下,NO 2 浓度的 金属氧化物传感器而言,电子传导发生在其表面
响应也只有不到 10% 变动。 的整个晶界,而我们传感器的传导机制则有着明
引领薄膜量产技术
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www.compoundsemiconductorchina.net 化合物半导体 2016年第4期 21