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MKS 发布宽光束 SWIR 成像仪

      材料来源:化合物半导体

测量 VCSEL 和 LED 在 SWIR 范围 (900 - 1700nm) 的大光束和发散光束的尺寸和功率分布。


MKS Instruments 宣布推出 Ophir 宽光束成像仪 SWIR (WB-I SWIR),这是一种紧凑型校准光学系统,用于测量 SWIR 范围(900 - 1700nm)内 VCSEL 和 LED 的大光束和发散光束的尺寸和功率分布。

 

由于传感器的高角度依赖性,或者需要笨重且昂贵的实验室设备,不适合现场操作或生产环境,当前分析宽且发散的 SWIR 波长光束的方法提供的结果不准确。

 

WB-I SWIR 轮廓仪与 Ophir BeamGage 软件和 InGaAs 相机结合使用时,能够对任何对于相机传感器来说太大的光束形状(圆形、线形、方形或环形)进行成像。它具有 45 毫米直径的孔径,可以准确测量入射角高达 70 度的光束(相比之下,标准光束轮廓仪的入射角为 15 度)。

 

光束在半透明漫射屏幕上被捕获,然后重新成像以生成完整和准确的光强度分布映射。WB-I SWIR 轮廓仪专为与基于相机的光束轮廓分析系统一起使用而设计,存在于如使用 IR VCSEL 或二极管的人眼安全应用、汽车 LIDAR、面部和手势识别以及遥感等领域。

 

Ophir Photonics 总经理 Reuven Silverman 说:“大光束或发散光束带来了特殊的挑战,因为传统光束轮廓仪的孔径太小而无法收集整个光斑。”

 

“此外,传统光束探测器的量子效率受入射角的影响很大。当入射角高达 20 度时,量子效率会急剧下降,从而导致显著的测量误差。WB-I SWIR 是一种经过校准的设备,可以处理高达 70 度的光束角。它捕获光束并将其功率分布成像到相机上,精度优于 ±5%。”

 

与其姊妹产品 WB-I 设备(可测量 350 - 1100 纳米范围内的 UV、VIS 和 NIR 光束)类似,WB-I SWIR 轮廓仪是一款紧凑型设备,可快速安装、易于使用,并且防尘。与低精度、自己动手的设备或缓慢且昂贵的测角仪不同,WB-I SWIR 生成的图像散斑减少,对功率分布测量精度高。

 

WB-I SWIR 轮廓仪由行业最先进的光束分析系统 Ophir BeamGage Professional 软件提供支持。BeamGage 基于 Ultracal,这是 Ophir 获得专利的基线校正算法,帮助建立了 ISO 11146-3 光束测量精度标准。

 

BeamGage 软件包括进行准确的、ISO 认可的激光束测量所需的所有计算,包括总功率、峰值通量、椭圆率、拟合优度等。

 

该软件提供先进的图像处理功能、NIST 可追踪功率测量、趋势图表、数据记录、通过/失败生产测试,以及对英语、日语和中文的多语言支持。高级功能包括相机输出分区,以单独分析来自光纤等来源的多束激光束,在将光束分析集成到自动化应用中时,有一个.NET接口可以完全远程控制,以及相机共享。

 

WB-I SWIR 轮廓仪、BeamGage 软件和 Ophir SP1203 InGaAs 相机一起使用时,可以提供实时光束形状分析和可视化。这意味着可以轻松检测到由于不同应用的电流而导致的光束形状变化。

 

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