SEM –日常实验室操作中的必需品 – JSM-IT700HR使操作变得简单
东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布,将于2020年8月推出新的扫描电子显微镜(SEM) JSM-IT700HR,提供前所未有的高通量。
开发背景
扫描电子显微镜应用于纳米技术、冶金、半导体、陶瓷、医学和生物学等各种领域。此外,SEM的应用范围正在不断扩大,以涵盖质量控制和基础研究。因此,对于更快地采集高质量SEM图像的数据和更轻松地确认组成信息的需求也在不断增长。
JSM-IT700HR基于我们屡获殊荣的“InTouchScope™”系列SEM构建,配备我们的浸没式(in-lens)肖特基(Schottky)场发射电子枪(FEG)。这款功能强大的新型SEM满足日常实验室操作中对进一步小型化材料进行观察和分析的需求。
JSM-IT700HR具有1纳米高分辨率和300 nA的最大探针电流(比以前型号高15倍),提供大量的观察和分析信息。简单易用的用户界面、可容纳大样本室的紧凑设计,以及为主控制台提供新的防振支架,均使观察和分析比以前更加舒适。
为增强“简易操作性”,JSM-IT700HR增加了整合到SEM GUI中的新功能,以显示特征X射线生成深度。这有助于迅速了解样本的分析深度(参考值),这对元素分析十分有用。
提供两种配置:1)用于高真空和低真空图像观察的JSM-IT700HR/LV;2)带有集成JEOL EDS系统的JSM-IT700HR/LA。
特性
销售目标
130台/年(起始年)
网址:https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html
上一篇:Velodyne激光雷达传感器... | 下一篇:三星推出无线充电紫外线... |